Üretim sürecinde istatistiksel proses kontrol ( İPK ) uygulamaları ve elektronik sektöründe bir inceleme

Abstract

statistiksel Proses Kontrol, Üretim Süreci, Süreç İyileştirme Teknikleri, Elektronik Sektörü ÖZET ÜRETİM SÜRECİNDE İSTATİSTİKSEL PROSES KONTROL ( İPK ) UYGULAMALARI VE ELEKTRONİK SEKTÖRÜNDE BİR İNCELEME Bu tez çalışmasında İstatistiksel Proses Kontrol kavramı ve teknikleri hakkında bilgi verilmiştir. Üretim sürecinde değişkenlik kavramı incelenmiştir. Konu ile ilgili önceki çalışmalara ait literatür taraması yapılmıştır. Çalışmanın uygulama kısmı için elektronik sektöründen bir işletme seçilmiştir. İşletmenin üretim ve kalite kontrol bölümleri ele alınmıştır. Toplanan veriler ile üretim bölümündeki arıza türleri, sebepleri ve kaynakları incelenmiştir. Pareto Diyagramı, Serpilme Diyagramı ve Sebep-Sonuç Diyagramı hazırlanmıştır. Kalite kontrol bölümünden alınan veriler ile Kontrol Diyagramları hazırlanmıştır. Süreci kontrol dışına çıkaran herhangi bir özel değişkenlik sebebi olmadığı görülmüştür. Rassal sebeplerden kaynaklı değişimlerden dolayı önerilerde bulunulmuştur. Statistical Process Control, Production Process, Process Improvement Techniques, Electronics Industry

STATISTICAL PROCESS CONTROL (SPC) APPLICATIONS IN THE PRODUCTION PROCESS AND A STUDY IN THE ELECTRONIC INDUSTRY In this thesis, the concepts of statistical control and techniques were given information. The concept of variability in the production process was reviewed. Related literatures of subject were reviewed. A company from electronic industry was selected for application. The production and quality control sections are dealt with together. The fault types, causes and sources of production were investigated from with collected data. Pareto Diagram, Scatter Diagram and Cause and Effect Diagram were prepared. Control Diagrams with data taken from the quality control department were prepared. There was no special reason for variation in which the process is out of control. Suggestions were given because of changes from random reasons.